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高低温介电温谱/频谱测量系统

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低温介电温/频谱测试系统

技术指标:

(1).测试温度范围-196-250℃,升温速率可控、测试温度跨度可选;

(2)。4样品8频点同时测量,无需中途更换样品,测试误差不高于3%

(3)。测试速度快,全温度范围4样品8频点测试仅需150min;

(4).多功能测试,可实现材料研究的ε-DZ-θ12种参数的温/频谱测试,亦可实现元器件特定频段12种参数的精细化温/频谱测试;

(5)。高安全性,测试完毕自动停止升温,可实现无人值守测试;

(6).实时控制、实时显示、实时数据计算、处理与存储;

(7)。数据文件格式规范,可与主流数据分析软件兼容;

(8).高集成度,便于操作。

 

主要组成:

多功能元器件测试仪、测试温箱、控制与采集软件。


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